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重慶萬(wàn)國(guó)半導(dǎo)體申請(qǐng)溝槽型功率半導(dǎo)體器件及其制備方法專利,提高開(kāi)關(guān)速度與線性區(qū)能力

日期:2025-04-18 閱讀:254
核心提示:國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局信息顯示,重慶萬(wàn)國(guó)半導(dǎo)體科技有限公司申請(qǐng)一項(xiàng)名為具有柵極突起結(jié)構(gòu)的溝槽型功率半導(dǎo)體器件及其制備方法的專利,

國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局信息顯示,重慶萬(wàn)國(guó)半導(dǎo)體科技有限公司申請(qǐng)一項(xiàng)名為“具有柵極突起結(jié)構(gòu)的溝槽型功率半導(dǎo)體器件及其制備方法”的專利,公開(kāi)號(hào)CN 119835990 A,申請(qǐng)日期為2025年1月。

專利摘要顯示,本發(fā)明公開(kāi)了一種具有柵極突起結(jié)構(gòu)的溝槽型功率半導(dǎo)體器件及其制備方法,制備方法包括:在硅襯底上沉積外延層;在外延層上依次制備二氧化硅墊層、第一掩膜層和第二掩膜層;刻蝕形成柵極溝槽;形成柵氧化層;淀積柵極多晶硅;通過(guò)化學(xué)機(jī)械研磨去除第一掩膜層表面的柵極多晶硅;刻蝕去除第一掩膜層,并調(diào)整硅平臺(tái)區(qū)上的柵極多晶硅形貌;過(guò)離子注入形成體區(qū)與源區(qū);制備源區(qū)接觸孔和鎢栓。本發(fā)明中,在溝槽型功率半導(dǎo)體器件制備過(guò)程中形成柵極突起結(jié)構(gòu),解決了多晶硅蝕刻后增大溝道漏電的問(wèn)題,并且通過(guò)增加?xùn)艠O多晶硅橫截面積減小了柵極電阻,提高了開(kāi)關(guān)速度與線性區(qū)能力,優(yōu)化了器件性能。

天眼查資料顯示,重慶萬(wàn)國(guó)半導(dǎo)體科技有限公司,成立于2016年,位于重慶市,是一家以從事計(jì)算機(jī)、通信和其他電子設(shè)備制造業(yè)為主的企業(yè)。企業(yè)注冊(cè)資本46093.126499萬(wàn)美元。通過(guò)天眼查大數(shù)據(jù)分析,重慶萬(wàn)國(guó)半導(dǎo)體科技有限公司參與招投標(biāo)項(xiàng)目34次,財(cái)產(chǎn)線索方面有商標(biāo)信息6條,專利信息138條,此外企業(yè)還擁有行政許可19個(gè)。

 

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