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博視像元獲1.3億元A輪融資，產(chǎn)品應(yīng)用于晶圓缺陷檢測(cè)等領(lǐng)域

CASICON晶體大會(huì)前瞻 |創(chuàng)銳光譜金盛燁：瞬態(tài)光譜技術(shù)及其在SiC晶圓缺陷檢測(cè)中的應(yīng)用

御微半導(dǎo)體首臺(tái)掩?；?span id="pd93h3t" class="highlight">缺陷檢測(cè)產(chǎn)品交付國(guó)內(nèi)先進(jìn)掩模廠

高視半導(dǎo)體納米級(jí)圖形晶圓缺陷檢測(cè)量產(chǎn)設(shè)備出口馬來(lái)西亞頭部客戶(hù)

華工科技2022年?duì)I收凈利雙增 SiC襯底外觀缺陷檢測(cè)設(shè)備實(shí)現(xiàn)國(guó)產(chǎn)替代應(yīng)用

英諾激光：目前公司產(chǎn)品在芯片制造領(lǐng)域的應(yīng)用為晶圓加工缺陷檢測(cè)、碳化硅退火等制造工序

KLA推出全新突破性的電子束缺陷檢測(cè)系統(tǒng)

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